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SN74ABT8652DW

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74ABT8652DW
  • Hersteller / Marke
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    28-SOIC
  • Serie
    74ABT
  • Verpackung
    Tube
  • Verpackung / Gehäuse
    28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Andere Namen
    296-33634-5
    SN74ABT8652DW-ND
    SN74ABT8652DWE4
    SN74ABT8652DWE4-ND
    SN74ABT8652DWG4
    SN74ABT8652DWG4-ND
  • Betriebstemperatur
    -40°C ~ 85°C
  • Anzahl der Bits
    8
  • Befestigungsart
    Surface Mount
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Hersteller Standard Vorlaufzeit
    6 Weeks
  • Logiktyp
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
  • Basisteilenummer
    74ABT8652

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SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
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SN74ABT8952DLR

SN74ABT8952DLR

Beschreibung: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8652DLRG4

SN74ABT8652DLRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8996DWR

SN74ABT8996DWR

Beschreibung: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
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SN74ABT8996DW

SN74ABT8996DW

Beschreibung: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
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SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8952DLRG4

SN74ABT8952DLRG4

Beschreibung: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8646DLG4

SN74ABT8646DLG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DLG4

SN74ABT8652DLG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

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SN74ABT8652DWRE4

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

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