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SN74ABT18504PM

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74ABT18504PM
  • Hersteller / Marke
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • ECAD -Modell
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    64-LQFP (10x10)
  • Serie
    74ABT
  • Verpackung
    Tray
  • Verpackung / Gehäuse
    64-LQFP
  • Andere Namen
    296-3940
  • Betriebstemperatur
    -40°C ~ 85°C
  • Anzahl der Bits
    20
  • Befestigungsart
    Surface Mount
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    3 (168 Hours)
  • Hersteller Standard Vorlaufzeit
    6 Weeks
  • Logiktyp
    Scan Test Device with Universal Bus Transceivers
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  • Basisteilenummer
    74ABT18504
SN74ABT18504PMRG4

SN74ABT18504PMRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18646PM

SN74ABT18646PM

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT16863DLR

SN74ABT16863DLR

Beschreibung: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18640DLR

SN74ABT18640DLR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT16952DLRG4

SN74ABT16952DLRG4

Beschreibung: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18502PMR

SN74ABT18502PMR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18640DLRG4

SN74ABT18640DLRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18502PM

SN74ABT18502PM

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18640DGGR

SN74ABT18640DGGR

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT16952DGGR

SN74ABT16952DGGR

Beschreibung: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56TSSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18640DL

SN74ABT18640DL

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18504PMG4

SN74ABT18504PMG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT2240ADBR

SN74ABT2240ADBR

Beschreibung: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT16952DLR

SN74ABT16952DLR

Beschreibung: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT16952DL

SN74ABT16952DL

Beschreibung: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18504PMR

SN74ABT18504PMR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18652PM

SN74ABT18652PM

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18245ADL

SN74ABT18245ADL

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74ABT18245ADGGR

SN74ABT18245ADGGR

Beschreibung: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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