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SN74BCT8245ANTG4

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74BCT8245ANTG4
  • Hersteller / Marke
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    24-PDIP
  • Serie
    74BCT
  • Verpackung
    Tube
  • Verpackung / Gehäuse
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Andere Namen
    SN74BCT8245ANTE4
    SN74BCT8245ANTE4-ND
  • Betriebstemperatur
    0°C ~ 70°C
  • Anzahl der Bits
    8
  • Befestigungsart
    Through Hole
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logiktyp
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
  • Basisteilenummer
    74BCT8245

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Das Folgende sind "SN74BCT8245ANTG4" -Einziper.
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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