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SN74BCT8373ADWR

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74BCT8373ADWR
  • Hersteller / Marke
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    24-SOIC
  • Serie
    74BCT
  • Verpackung
    Tape & Reel (TR)
  • Verpackung / Gehäuse
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Betriebstemperatur
    0°C ~ 70°C
  • Anzahl der Bits
    8
  • Befestigungsart
    Surface Mount
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logiktyp
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Basisteilenummer
    74BCT8373

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Zahlung
Das Folgende sind "SN74BCT8373ADWR" -Einziper.
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Beschreibung: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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