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SN74BCT8374ANTG4

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74BCT8374ANTG4
  • Hersteller / Marke
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • ECAD -Modell
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    24-PDIP
  • Serie
    74BCT
  • Verpackung
    Tube
  • Verpackung / Gehäuse
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Andere Namen
    SN74BCT8374ANTE4
    SN74BCT8374ANTE4-ND
  • Betriebstemperatur
    0°C ~ 70°C
  • Anzahl der Bits
    8
  • Befestigungsart
    Through Hole
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logiktyp
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
  • Basisteilenummer
    74BCT8374
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16211GQLR

SN74CB3Q16211GQLR

Beschreibung: IC 24BIT FET BUS SW HI-BW 56-BGA

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16211DGGR

SN74CB3Q16211DGGR

Beschreibung: IC SW BUS 24BIT FET 56-TSSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16210DLR

SN74CB3Q16210DLR

Beschreibung: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16210DL

SN74CB3Q16210DL

Beschreibung: IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Beschreibung:

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16211DGVR

SN74CB3Q16211DGVR

Beschreibung:

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16211DL

SN74CB3Q16211DL

Beschreibung: IC SWITCH BUS FET 24BIT 56-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16211DLR

SN74CB3Q16211DLR

Beschreibung: IC SW BUS 24BIT FET 56-SSOP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16211ZQLR

SN74CB3Q16211ZQLR

Beschreibung:

Hersteller: Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74CB3Q16210DGVR

SN74CB3Q16210DGVR

Beschreibung:

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig

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